三相工控繼電保護校驗儀頻率及高低周試驗方法：

 “頻率及高低周試驗”測試模塊主要是用來測試低周減載和高周切機等保護的各項功能。根據(jù)其功能，將這個模塊分成了六個測試單元。

l 測試項目全面，包含了幾乎所有的頻率及高低周保護

l 頻率可以下滑進行低周減載測試，也可以上滑進行高周試驗

第一節(jié)   界面說明

¢ 測試項目

有“動作頻率”、“動作時間”、“df/dt閉鎖”、“dv/dt閉鎖”、“低電壓閉鎖”以及“低電流閉鎖”等六個測試項目。根據(jù)需要，可以選擇其中的一個或者多個進行試驗。選擇多個測試項目時，在一個測試項目測試完畢后，會彈出相應對話框提示是否進行下一個測試項目。

測試對象名稱中包含“低周保護”、“頻率繼電器”、“差頻繼電器”、“低頻繼電器”以及“高頻繼電器”五種繼電器。默認情況下選擇“低周保護”。其下拉菜單如圖所示：

¢ 試驗參數(shù)

—  頻率變化前延時

在變量的每個變化過程中，裝置先以額定頻率50Hz輸出，維持至“頻率變化前延時”結(jié)束，然后再開始變化。該項在有些保護測試是非常有用，可以用來等待保護頻率閉鎖后解除閉鎖。

—  測試間斷時間

每一次試驗結(jié)束后裝置將停止輸出至“測試間斷時間”結(jié)束，再進入下一次試驗。

—  整定值

各測試功能頁中均有整定值輸入框，這些整定值大多在試驗期間并不起作用，只是在試驗后起到參考對比作用。根據(jù)需要自行設(shè)定“允許誤差”。試驗測得的“測試值”與“整定值”進行比較后，得出一個相對誤差，從而反映保護的性能。

¢ 動作頻率

—  動作頻率測試范圍

動作頻率測試范圍的測試始值和終值均應設(shè)置在動作頻率附近。三相工控繼電保護測試儀測試始值應大于保護整定動作值，測試終值小于整定動作值，

動作頻率的測試方法：測試時頻率分兩階段變化：開始以50Hz輸出，經(jīng)過變化前延時后，先按所設(shè)定的df/dt均勻下滑（或上滑）至測試始值頻率，然后按設(shè)定的步長以一定時間間隔逐格降低（或上升）頻率，在該過程中如保護動作，則測出動作值。如未動作，當變化至測試終值，即認為保護不會動作而結(jié)束該項目測試。

這里逐格變頻的時間間隔是根據(jù)整定的動作時間自動確定的，該時間間隔比整定動作時間長0.2S。故整定動作時間應設(shè)置正確，以保證在變化時間間隔內(nèi)保護有足夠時間可以動作。

做低周減載試驗一般測試范圍小于50Hz，做高周切機試驗一般測試范圍大于50Hz。

例如：已知低周動作值為48.5Hz，可以設(shè)定測試范圍為48.7—48Hz，步長為0.05Hz。測試始值和終值不能設(shè)置得太?。ㄒ话銘坏陀?5Hz），否則保護將閉鎖。

¢ 動作時間

動作時間測試的方法：頻率從始值（一般為50Hz）下滑至終值并等待動作。該終值應略小于動作頻率值以確保裝置動作，但測試動作時間的計時器是從所設(shè)定的“開始計時點的頻率”處開始計時，故該值若有偏差將影響時間測量精度。試驗過程見右圖。

—  開始計時的頻率點

測動作時間時，應特別注意正確設(shè)置“開始計時點的頻率”。一般設(shè)置為裝置整定的動作頻率，或測試出的準確動作頻率值。

¢ df/dt閉鎖

—  df/dt測試范圍

測試“df/dt閉鎖值”時，在此范圍內(nèi)逐點進行試探測試，每次測試時都從頻率始值下滑（或上滑）至終值，下滑（或上滑）的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化，試探至某一輪試驗至保護動作，則測出此時的df/dt閉鎖的邊界值。

因為保護在大于整定的df/dt值下滑時閉鎖，所以，一般變化始值應設(shè)置為大于保護整定的閉鎖值，變化終值應設(shè)置為小于保護整定的閉鎖值，即測試保護從不動作到動作，測出保護的df/dt閉鎖值。

—  頻率變化范圍

每輪試驗頻率從始值下滑（或上滑）至終值。始值一般為50Hz，三相工控繼電保護測試儀變化終值不能設(shè)置太小，因為一般裝置都有一個固有的“閉鎖頻率”，頻率太低了，裝置將會被閉鎖不出口。

注意：

做該試驗時頻率變化前延時一般不能太小，以使保護有足夠時間解除閉鎖狀態(tài)。

¢ dv/dt閉鎖

這個測試頁與上文中的“df/dt閉鎖”很相似，區(qū)別在于每輪測試變化的是dv/dt值。下面只對它們的不同點做介紹。

—  dv/dt測試范圍

測試“dv/dt閉鎖值”時在此范圍內(nèi)逐點進行試探測試，每次測試時電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化，試探至某一輪試驗如果保護動作，則測出dv/dt閉鎖的邊界值。

因為裝置在大于整定的dV/dt閉鎖值時處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作做到動作，從而測出裝置的dv/dt閉鎖值。

—  電壓變化范圍

為了模擬電壓下降的過程，一般應設(shè)電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設(shè)置的電壓“變化終值”應大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。

—  測試時df/dt值

在此測試單元里頻率總是按所設(shè)置的df/dt變化，因此設(shè)置df/dt時，應保證其值小于裝置所整定的df/dt閉鎖值。

¢ 低電壓閉鎖

該頁與上文中的“df/dt閉鎖”和“dv/dt閉鎖”相似。下面僅介紹不同點。

—  電壓測試范圍

測試時電壓在此范圍內(nèi)逐點進行試探測試，每輪測試時頻率變化，但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加，至某一值時裝置解除閉鎖正確動作，則該值即為低電壓閉鎖邊界值

由于裝置在電壓小于閉鎖值時處于閉鎖狀態(tài)，故一般變化始值應設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值，變化終值應設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作到動作，從而測出裝置的低電壓閉鎖值。

¢ 低電流閉鎖

該測試頁與“低電壓閉鎖”試驗方法非常相似?，F(xiàn)場試驗時，請參考“df/dt閉鎖”、“dv/dt閉鎖”和“低電壓閉鎖”中的使用說明。